Ερευνητές
 
Iconuserslogin Είσοδος Χρηστών    Mailbox Ηλ. Ταχυδρομείο    Iconinfo English

Οπτική – Οπτική Επεξεργασία Πληροφοριών

Οπτική απεικόνιση πληροφοριών
Ερευνητικά Ενδιαφέροντα:

1) Τα φαινόμενα “Speckle”: Τα οποία αφορούν τις ιδιότητες (από στατιστική άποψη) του φωτός (συμφωνία και μερική συμφωνία) και τη στατιστική των επιφανειών στις οποίες ανακλάται ή διαθλάται. Οι εργασίες μας εδώ αφορούν προβλήματα συμβολομετρίας “Speckle” και οπτικής επεξεργασίας πληροφοριών με φορείς τους “κόκκους” του “Speckle”.
2) Eπεξεργασία οπτικών πληροφοριών: Η οποία βασίζεται σε μια γενικευμένη άποψη της βαθμωτής θεωρίας της περίθλασης του φωτός της κλασσικής οπτικής. Πρόκειται για τη λεγόμενη Οπτική Fourier. Οι εργασίες μας εδώ αφορούν κυρίως την ανάδειξη μεθόδων παρατήρησης αντικειμένων φάσης (δηλ. διαφανών υλικών με μεταβλητό δείκτη διάθλασης).
3) Φωτοδιαθλαστικοί κρύσταλλοι: Στους κρυστάλλους αυτούς είναι δυνατόν να εγγραφούν φράγματα φάσης. Τα τελευταία αποτελούν φορείς καταγραφής, αποθήκευσης και επεξεργασίας οπτικών πληροφοριών. Σε ειδικές τομές αυτών των κρυστάλλων καταγράφονται φράγματα συναρτήσει του προσανατολισμού του διανύσματος φράγματος και της υψηλής τάσης που εφαρμόζεται στα άκρα τους. Με πρόσπτωση στο φράγμα κατάλληλης δέσμης φωτός, αναπαράγεται μέσω περίθλασης η καταγραμμένη πληροφορία. Μελετούμε την περιθλαστική ικανότητα των φραγμάτων και τις πολωτικές ιδιότητες της περιθλώμενης δέσμης, συναρτήσει της κατάστασης πόλωσης της προσπίπτουσας, καθώς και άλλες ιδιότητες των φραγμάτων φάσης.
4) Μετρήσεις των συντελεστών διαφόρων φυσικών ιδιοτήτων των κρυστάλλων: Εδώ ασχολούμαστε με κρύσταλλους που είναι Οπτικά ενεργοί Ηλεκτροοπτικοί (Pockel effect), Φωτοελαστικοί (μέσω του αντιστρόφου πιεζοηλεκτρικού φαινομένου), Ηλεκτροστροφικοί, εμφανίζουν Ηλεκτροοπτικό φαινόμενο δεύτερης τάξης (Kerr effect) κ.ά. Με τη βοήθεια ειδικών διατάξεων μετρούμε: Τον διασκεδασμό (συναρτήσει του μήκους κύματος) για την ορατή περιοχή του Η/Μ φάσματος: α) Των δείκτων διάθλασης, β) Της οπτικής ενεργότητας, γ) Τους ηλεκτροοπτικούς και δ) Τους ηλεκτροστροφικούς συντελεστές τους.
Υλικοτεχνική υποδομή
1) Οπτικές τράπεζες και μηχανικά συστήματα ελεγχόμενα από Η/Υ.
2) Οπτικά εξαρτήματα και συστήματα.
3) Πηγές φωτός και Lasers.
4) Ηλεκτρονικά συστήματα (Παλμογράφοι, τροφοδοτικά κλπ).
5) Μονοχρωμάτορες, φασματογράφοι.
6) Πλήρης σειρά μικροσκοπίων.
7) Περιθλασίμετρα, συμβολόμετρα και άλλα οπτικά όργανα.

ΑΝΑΚΟΙΝΩΣΕΙΣ

  • 16-11-2017
  • Προκήρυξη εκλογών για την ανάδειξη εκπροσώπων ΕΔΙΠ και ΕΤΕΠ στα όργανα του Τμήματος
  • 16-11-2017
  • Πρόγραμμα των κατατακτηρίων εξετάσεων για το ακαδημαϊκό έτος 2017-2018
  • 16-11-2017
  • Γενικά Μαθηματικά ΙΙΙ - Αναπλήρωση μαθημάτων (Τμήμα Α. Πέτκου)
  • 14-11-2017
  • ΕΕΦ: 17ο Πανελλήνιο Συνέδριο Φυσικής
  • 13-11-2017
  • Πρόσκληση σε παράσταση - ΙΥF - Christmas Miracle in Thessaloniki
  • 13-11-2017
  • Εκδήλωση του Γραφείου Διασύνδεσης στις 21 και 22 Νοεμβρίου 2017
  • 09-11-2017
  • Αλλαγή ώρας παράδοσης στο μάθημα Ξένη Γλώσσα (Αγγλικά)
  • 08-11-2017
  • Εγγραφές αθλητών ακαδημαϊκού έτους 2017-2018
  • 08-11-2017
  • Μετεγγραφές ακαδημαϊκού έτους 2017-2018
  • 31-10-2017
  • Κατατακτήριες εξετάσεις
  • 30-10-2017
  • Έναρξη δηλώσεων και διανομής συγγραμμ'ατων χειμερινού εξαμήνου ακ. έτους 2017-18
  • 10-10-2017
  • Ορκωμοσία φοιτητών 24/11/2017
  • 20-09-2017
  • Διευκρίνιση σχετικά με το Πιστοποιητικό Παιδαγωγικής & Διδακτικής Επάρκειας (ΠΠΔΕ)
  • 28-04-2017
  • Κατατακτήριες εξετάσεις

ΗΜΕΡΟΛΟΓΙΟ

<<Νοέμβριος>>
ΚυρΔευΤριΤετΠεμΠαρΣαβ
      1 2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14 15
16
17
18
19
20
21 22
23
24
25
26
27
28
29
30